电镀膜厚测试仪 XULM-XYZ

电镀膜厚测试仪是一部简单、容易操作，且经济实惠的测量仪器。大测量室可以测量大体积，不规则形状的工件。DMC测量法能对测量距离修正，可以自动测量复杂的形状，大的线路板也可轻易的放在测量头及测量台之间的槽进行测量。

电镀膜厚测试仪的一般技术规格:
1.使用的范围:用于测量薄膜层的厚度及电镀药水中的成份分析.
2.元素范围 :从CL(17)to铀(92),同时可检测多至5个元素,甚至多到24种元素也可检测.
3.测量方向:X射线方向是由上向下的设计.
4.X射线源:钨靶及铍窗口的X-射线管
5.高压: 可调节30KV,40KV,50KV
6.准值器:0.3mm,(选配圆形0.1mm,0.2mm,长方形0.3mm*0.05mm)
7.接收器:比例接收器
8.用高解像的CCD彩色摄影机来监测测量位置,影像的摄影是与基本X-射线光束在相同的轴上,在对焦方便可作手动或自动对焦,对位的十字线是可以调校其刻度及测量点的大小,而且可以调节照明用的发光二极管的光亮度.

电镀膜厚测试仪的应用领域： 
　　1、分析电子部品电镀层的厚度 
　　2、各类五金电镀件的镀层厚度管控分析 
　　3、各镀层的成分比例分析。