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X射线镀层膜厚仪 XDL

品牌:菲希尔
产品价格:面议
广东,深圳市,深圳市区
X射线镀层膜厚仪
X射线镀层膜厚仪采用全新数学计算方法,采用**新的FP(Fundamental Parameter)、DCM (Distenco Controlled Measurement)及强大的电脑功能来进行镀层厚度的计算,在加强的软件功能之下,简化了测量比较复杂镀层的程序,甚至可以在不需要标准片之下,一样精准测量。

X射线镀层膜厚仪可测元素范围:
氯(CL) – 铀(U)
可测量厚度范围:
原子序22-25,0.1-0.8μm≤
26-40,0.05-35μm
43-52,0.1-100μm
72-82,0.05-5μm
X-射线管:油冷,超微细对焦
高压:0-50KV(程控)
电脑系统:IBM相容,17”显示器

X射线镀层膜厚仪主要应用于小五金的测量(如:小螺丝、手表、眼镜、端子),大面积的样品(如:线路板),亦可测量药水含量,只需要将药水放进别外选购的测量杯便可以进行测量,这样便可以随时随地的监察电镀槽的药水状况如何,有效率地控制电镀生产,测贵金属成分可达到重复性约0.1%。
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