端子厚度分析仪采用射线向上的测量技术，集成了含十字线、射线位置指示标志、光亮及位置调节的视频显微系统，将使得样品的放置和测量定位变得快捷而容易。现在您不再需要调节测量台或是样品台——只需放下样品即可开始测量。端子厚度分析仪专利X－射线光学镜片，创新的X-射线光学原理，使这部仪器能产生非常小，但高辐射强度的测量点，所以，测量数十微米的面积的结构也变成可能。配备了半导体接收器适合测量薄到数NM的镀层，端子厚度分析仪，还能测量出范围从元素氯（Z＝13）至铀（Z ＝92）。FISCHER 膜厚仪测量技术**同行15年，在同测量领域独领风蚤，成为膜厚仪**，精准的数据，高端先进的技术，严格的品质要求，可靠、可信、快速的服务，及一些专业意见与技术扶持，值得您的信赖。
