供应 膜厚测试仪SFT9400
微小面积对应及高性能型 可测量元素 原子序号22(Ti)~ 83(Bi) X射线源 小型空气冷却型高功率X射线管球(Mo靶) 管电压：50kV 管电流：1.5mA Be窗 滤波器 一次滤波器：Mo-自动切换二次滤波器：无 照射方式 上方垂直照射方式 检测器 半导体检测器+比例计数管(不需液氮的检测器) 仪器校正 自动校正+手动校正 准直器(标准配置) ○型(Φ0.015、Φ0.05、Φ0.1、Φ0.2mm) 安全性能 样品室门锁，样品防冲撞功能 样品图像对焦 有(激光对焦) 样品观察 CCD摄像头+倍率光学器+卤素灯照明 焦点切换功能 3段切换9400：10/40/70mm 9450：10/25/40mm X-ray Station 台式电脑 (OS MS-Windows XP?) 打印 喷墨打印机 应用 单层、双层、多成分合金薄膜、成分比同时测量、化学镍 软件 块体FP法软件、薄膜FP法软件 测量功能 自动测量、中心搜索、图像识别处理 修正功能 基材修正、已知样品修正、人工输入修正 统计处理功能 MS-EXCEL? 报告制作功能 MS-WORD? 特别是可识别Ni和Cu之类能量较为接近的元素。 ? 能够对Ni/Cu和Au/Ni/Cu在不使用二次滤波器的情况下进行测量 ? 对于含Br的电路板，可以不受Br的干扰对Au的镀层厚度进行高精度的测量 ? 可测量0.01μm以下的超薄的Au镀层厚度 ★ 搭载块体FP发软件和薄膜FP法软件 对应含铅的合金镀膜和多层镀膜等，适用于广泛的运用领域 ★ 适用超微小面积的测量 标准配备的15μmΦ的准直器，可对超微小面积进行测量。
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