供应 精工镀层测厚仪
精工SFT9100/SFT9200/SFT9300/SFT9400系列X射线镀层测厚仪,膜厚仪,X-RAY仪欢迎来电咨询代理销售及服务日本精工SFT系列镀层测厚仪,元素分析仪(X射线测厚仪,膜厚仪,荧光X射线仪) SFT9100M/SFT9200/SFT9300/SFT9400/SFT9500精工是全世界**早生发研发的X射线测厚仪, SFT9100M技术参数如下:测量金属膜厚如Au/Ag/Ni/Sn/Zn/Cr等等镀层单层/双层/多层 1)全自动电动样品台(省去手动麻烦) 2)双准直器(不管样品多大或多小都能准确测量) 3)激光红点对位(能随意确定待测点位置) 4)Mo靶材微聚焦X射线管,行业中无人能及 SFT是精工系列中比较经济使用型的机型
日本精工SFT9400 X射线荧光镀层厚度测量仪
产品副名称:可满足所有度层厚度测量需求的双检测器型镀层厚度测量仪
SFT9000系列中**高级的机型「SFT9400系列」
搭载有75W高功率X射线管与双检测器(半导体检测器+比例计数管),能满足“薄膜镀层”、“合金镀层”、“超微小面积测量”等镀层厚度测量需求的高性能镀层厚度测量仪。
此外,SFT9400系列还在测量镀层厚度的基础上,新增了可对不同被测物体积材料进行定性分析和成分分析的功能。
产品型号:SFT9400、SFT9450、SFT9455
技术参数:
可测量元素:原子序数22(Ti)~83(Bi)
X射线源:小型空气冷却型高功率X射线管球(Mo靶)
管电压: 50kV 管电流: 1.5mA Be 窗
滤波器:一次滤波器:Mo
照射方式:上方垂直照射方式
检测器:比例计数管+半导体检测(无需液氮)
准直器:圆形:Φ0.015mm Φ0.05mm Φ0.1mm Φ0.2mm
安全性能:样品室门自锁功能、样品防冲撞功能、自动诊断功能
样品图像对焦方式:激光自动对焦
样品观察:彩色CCD摄像头 倍率光学器 卤素灯照明
样品平台大小及承重: SFT9400:240mm(W) ×170mm(D) 10kg
SFT9450:420mm(W) ×330mm(D) 5kg
SFT9455:700mm(W) ×600mm(D) 3kg
重量:SFT9400/SFT9450:125kg (不含电脑)
SFT9455:130kg(不含电脑)
修正功能:底材修正、已知样品修正、人工输入修正
测量报告书制作:配备MS-EXCEL? & MS-WORD?(使用宏支持自动制作测量报告书)
测量能谱与样品图像保存功能
产品特点:
★ 搭载有高功率X射线管及双检测器(半导体检测器+比例计数管)
可对应组合复杂的应用程序,特别是可识别Ni和Cu之类能量较为接近的元素。
能够对Ni/Cu和Au/Ni/Cu在不使用二次滤波器的情况下进行测量
对于含Br的电路板,可以不受Br的干扰对Au的镀层厚度进行高精度的测量
可测量0.01μm以下的超薄的Au镀层厚度
★ 搭载块体FP发软件和薄膜FP法软件
对应含铅的合金镀膜和多层镀膜等,适用于广泛的运用领域
★ 适用超微小面积的测量
标准配备的15μmΦ的准直器,可对超微小面积进行测量。
★ 搭载了可3段切换的变焦距光学系统
★ 拥有防冲撞功能
★ 搭载高精度样品平台,更可测量大型线路板(SFT9455)
★ 搭载激光对焦系统
★ 搭载测试报告自动生成软件
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