供应 SFT9200膜厚仪
可测元素：Ti～BiX射線管：管电压45KV，管电流1mA
检测器：比例计数管
仪器校正：自动校正
准直器：〇型：0.1 , 0.2 ,o.3mmф
□型：0.2x0.05, 0.05x0.2mm
样品观察：CCD摄像机
滤波器：Co, 自动切换
X-ray Station :电脑， 17?CRT
测量功能：自动测量，中心检查
补正功能：底材补正，已知样品补正
定性功能：KLM标示，能谱比较标示。
数据处理功能：MS-EXCEL标准配置
检测报告自动生成功能：MS-WORD标准配置
主要特点
薄膜FP软件：可对应于含无铅焊锡在内的合金电镀或多层电镀的测量，应用范围广泛。
可打印检测报告：利用Microsoft的Office 操作系统可将检测报告工作之便简单快速地打印出来。
激光自动对焦功能：只需轻轻按一下激光对焦按钮，就可自动进行对焦。
防止冲撞功能：对于测量有高低差的样品时，配置了为防止样品和仪器冲撞的自动停止功能
仪器介绍
SFT系列产品，拥有20余年的光辉历史和实绩，SFT9200系列作为SFT系列的新产品，不仅承继了其操作性和依赖性并存的传统，而且又得到进一步深化改良，成为应用更加广泛的荧光X射线镀层厚度测量的"新标准仪器"。
日本精工电子有限公司（Seiko Instruments Inc.简称SII），于1978年**于其他厂商，研究开发出日本**台荧光X射线镀层厚度测量仪－SFT155。经过二十多年的努力，现在的荧光X射线镀层厚度测量仪能够准确地测量微小面积的镀层厚度。现已为全世界电子零部件、印刷电路板、汽车零部件等相关厂商提供了5000台以上的测量仪，深受用户的依赖与好评。从此，"SFT"几乎成为镀层厚度测量仪的代名词。
随着市场竞争的愈加激烈及产品更新换代的加快，客户需求也日新月异。为了迎接新世纪的挑战，本公司在SFT9000系列的基础上又推出更高性能的SEA5000系列仪器，更加充实了荧光X射线镀层厚度测量仪的应用领域。
● 1.荧光X射线微小面积镀层厚度测量仪的特征
＊可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。
＊可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触或破坏被测物。
＊薄膜FP法软件是标准配置，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量。此外，适用于无铅焊锡的应用。
＊备有250种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品。（SII专用）
● 2.测量原理
如图1所示，物质经X射线或粒子射线照线后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。
镀层测厚仪工作原理：镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。
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