供应 南通高低温冲击试验箱
产品用途该产品适用于电子元器件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等，同时通过此装备试验，可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。
二箱式：上部为高温箱，下部为低温箱，两箱之间由样品架连结，经气动系统在两箱间切换。
产品符合标准
设备符合MIL-STD-883C,GB/T2423.13，GJB-150.5 GJB1217等标准的要求。
技术参数
型号
WDCJ-162
WDCJ-340
WDCJ-500
WDCJ-010
工作室尺寸:mm
450×450×450
600×600×600
800×800×800
1000×1000×1000
样品区尺寸:mm
300×300×250
450×450×360
650×650×500
850×850×700
性
能
指
标
温度范围
A:-20℃～200℃
B:-40℃～200℃
C:-60℃～200℃
温度波动
高温室及低温室均≤±2℃
样品区温度波动
≤±0.5℃（恒温时）
样品区承重
20kg
30kg
50kg
温度运行控制系统
控制器
日本进口UMC-1300真彩触摸屏(P、I、D﹢S、S、R)微电脑集成控制器
韩国进口TEMI880真彩触摸屏(P、I、D﹢S、S、R)微电脑集成控制器
（选其一）
精度范围
设定精度：温度±0.1℃，指示精度：温度±0.1℃，解析度：±0.1℃
制冷系统
进口德国谷轮半封闭水冷式压缩机组/原装法国“泰康”/全封闭风冷复迭压缩制冷方式
循环系统
耐温低噪音空调型电机.多叶式离心风轮
温度转换时间
从低温区到高温区或从高温区到低温区≤5S
温度恢复时间
≤5min（与温度恢复条件有关，既冷却水温、暴露温差、恒温时间、样品重量有关）
温度冲击方法
垂直两箱法 (两箱式冷热冲击试验箱 )
以上为标准型试验箱，可根据用户的具体要求定做非标型
本技术信息，如有变动恕不另行通知
点击数：792 录入时间：2010-11-4 【打印此页】 【返回】
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